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−現行JIS（JIS C 61300規格群）と旧JIS（JIS C 5901／JIS C 5961）との関係― |
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光受動部品及び光コネクタの試験測定方法は，従来，JIS C 5901（光伝送用受動部品試験方法）及びJIS C 5961（光ファイバコネクタ試験方法）として規定されていたが，IECでは光受動部品及び光コネクタの試験測定方法を個別にIEC 61300規格群として規定していた。
JISをIEC規格と整合させることを目的として，IEC 61300規格群に対応してJIS C 61300規格群を規定することし，JIS C 5901及びJIS C 5961の規定内容を順次置き換えていったが，2018年にJIS C 5901，2020年にJIS C 5961のJIS C 61300規格群への置き換えが完了し，それぞれのJISを廃止した。 JIS利用者の利便のため，ここに旧JIS C 5901／JIS C 5961の各箇条の規定と新JIS C 61300規格群との対応関係を示す表を公開するとともに，IEC 61300規格群とJIS C 61300規格群の最新の対応関係を示す表を公開する。 （JIS C 5901の追補及びJIS C 5961の追補の解説において，JIS C 61300規格群を整備する趣旨を説明していたが，それを要約して次に示す。） |
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